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二维材料
成像椭偏仪
应用
SiO2/Si 上的石墨烯
玻璃上的二维材料
单层二维微晶
异质结构 MoS2/WSe2
单层和三层的薄片搜索
成像椭偏仪有何独特之处？
- 对尺寸小至 1 µm 的二维材料薄片进行光谱椭圆测量
- 厚度分布和折射率（190-1700nm）的显微图
- 椭圆偏振对比显微照片 (ECM) 能够增强成像的对比度，例如光学显微镜观察层数和不均匀性
- 使用刀状照明对透明基材进行无损测量，以防止不必要的背面反射
